特(te)點(dian)：
l        ; 所有測(ce)試(shi)(shi)數據皆由計算機設定并自動(dong)保存：測(ce)試(shi)(shi)條件(jian)、測(ce)試(shi)(shi)結(jie)果、（荷重(zhong)—位移）曲(qu)線(xian)\壽命
衰減曲線(xian)、并自(zi)動生成(cheng)報表
l         高精度：荷重分(fen)辨(bian)率(lv)為0.01gf,位移分(fen)辨(bian)率(lv)為0.001mm
l     ;    采(cai)用(yong)高(gao)精度防爆型Load Cell，重復性誤差：0.01%
l         高(gao)穩定(ding)度：采用日本松下伺(si)服(fu)電機驅動級無間(jian)系(xi)、無磨滾珠螺(luo)桿(gan)傳動，可(ke)消(xiao)除噪(zao)音(yin)及機臺(tai)共振；
l         配以時規皮帶輪，確保橫檔位移穩(wen)定(ding)度(du)；
l       ;  可(ke)輸入上下限(xian)值(zhi)條件(jian)，自動判別測試結(jie)果Passed 或Fail，及(ji)較大(da)值(zhi)、較小值(zhi)、平均值(zhi)、均方差等
測(ce)試項(xiang)目：
※ 橡膠按(an)鍵(jian)（荷重—位移）實驗(yan)           
※ 金屬(shu)彈片按鍵（荷重(zhong)—位移）實驗
※ 手機、遙控器按鍵（荷重—位移）實驗   
※ 各類按鍵(jian)、鍵(jian)盤壽命衰減實驗(yan)
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